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熒光鍍層測厚儀的使用方法講解

熒光鍍層測厚儀的使用方法主要有五種，分別是磁性測厚法、渦流測厚法、超聲波測厚法、電解測厚法、放射測厚法。熒光鍍層測厚儀的每種使用方法，都有其自身獨(dú)特的優(yōu)勢。

1.磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高

2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。

3.超聲波測厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價(jià)格昂貴\測量精度也不高。

4.電解測厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測量起來較其他幾種麻煩。

5.放射測厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬rmb以上)，適用于一些特殊場合。

膜厚儀Star II  應(yīng)用場景

>熒光鍍層測厚儀測量的對(duì)象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學(xué)生成膜等

>可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度

>鍍鉻，例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品

>鋼上鋅等防腐涂層

>貴金屬成分分析，貴金屬鍍層，如金基上的銠材料分析

>分析硬質(zhì)材料涂層，例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能，電鍍液離子濃度分析

膜厚儀Star II 產(chǎn)品特點(diǎn)

>超大樣品腔

>一鍵測試，一鍵打印報(bào)告

>與其他軟件的無縫集成使其能夠輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù)，兼容LIMS數(shù)據(jù)庫

>經(jīng)久耐用，在充滿考驗(yàn)的生產(chǎn)或?qū)嶒?yàn)室環(huán)境中使用壽命長

膜厚儀Star II  可分析的常見鍍層材料

熒光鍍層測厚儀可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用：如可檢測鐵鍍鎳、銅鍍鎳、鐵鍍鉻、銅鍍錫、銅鍍金、銅鍍銀等單鍍層的厚度和元素成分

多涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Cu/Fe鐵鍍銅鍍鎳，Au/Ni/Cu銅鍍鎳鍍金，Sn/Ni/Cu銅鍍鎳鍍錫等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe鐵鍍鎳鋅合金, ZnAl/Ni/Cu銅鍍鎳鍍鋁鋅合金等

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