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GJB 548B-2005微電子器件鹽霧試驗箱
摘要：GJB548B-2005標準中規(guī)定了軍用微電子器件的環(huán)境、機械、電氣試驗方法和試驗程序，以及為保證微電子器件滿足預定用途所要求的質(zhì)量和可靠性而必須的控制和限制措施。也適用于軍用及空間應用的微電子器件。其中便規(guī)定了微電子器件與鹽霧試驗箱的相關要求。 |
GJB 548B-2005標準中的方法1009.2 鹽霧（鹽汽）規(guī)定了對器件進行鹽霧試驗的規(guī)定，也對進行測試的設備也就是鹽霧試驗箱有著相關要求。
鹽霧試驗目的：
鹽霧試驗是為了模擬海邊空氣對器件影響的一個加速的腐蝕試驗。
鹽霧試驗箱要求：
1. 帶有支撐器夾具的試驗箱。該箱及其附件應采用不會與鹽霧發(fā)生作用的材料（玻璃、塑料等）制造。在試驗箱內(nèi)，與試驗樣品接觸的所有零件，應當用不產(chǎn)生電解腐蝕的材料制造。該箱應適當通風，以防止產(chǎn)生“高壓”，并保持鹽霧的均勻分布；
2. 能適當?shù)胤乐怪車h(huán)境條件對鹽溶液容器的影響。如需要，為了進行長時間試驗，可采用符合試驗條件要求的備用鹽溶液容器；
3. 使鹽霧霧化的手段，包括合適的噴嘴和壓縮空氣或者由20%氧、80%氮組成的混合氣體（應防止諸如油和灰塵等雜質(zhì)隨氣體進入霧化器中）；
4. 試驗箱應能加熱和控制；
5. 在高于試驗箱溫度的某溫度下，使空氣潮濕的手段；
6. 空氣或惰性氣體干燥器；
7. 1倍~3倍、10倍~20倍和30倍~60倍的放大鏡。
鹽霧試驗箱的控制：
按照相關要求對鹽霧試驗箱進行處理之后，具有溫度至少35℃的鹽霧在規(guī)定的試驗時間內(nèi)流過試驗箱。試驗箱內(nèi)的溫度應保持在（35±3）℃。鹽霧的濃度和速度應調(diào)節(jié)到使得鹽在試驗區(qū)域內(nèi)的沉積速率在（20~50）g/（m2·d）之間。鹽的沉積速率可以用體積的、重量的或其他方法來測定（由用戶任意選擇）。在試驗箱底部收集的鹽液應廢棄。
AOTSI鹽霧試驗箱又名鹽水噴霧試驗機、鹽霧試驗機、鹽霧試驗箱為人工氣候環(huán)境“三防”（濕熱、鹽霧、霉菌）試驗設備之一，是研究機械、國防工業(yè)、輕工電子、儀表等行業(yè)各種環(huán)境適應性和可靠性的一種重要試驗設備具有顯著的優(yōu)點：腐蝕環(huán)境可以控制，環(huán)境再現(xiàn)性好；試驗時間明顯縮短；節(jié)約了大量的人力、財力、物力，被廣泛應用于對電子、電工及汽車、航空、軍用設備、五金工具等產(chǎn)品、零部件、金屬材料與制品的電鍍、涂層等進行鹽霧腐蝕試驗。
滿足試驗標準及測試方法 :
1.ASTM/B117-2011鹽霧試驗
2.GJB150.11_1986鹽霧試驗
3.GB-T10125-2012人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗
4. GBT2424.17-2008 鹽霧試驗方法
5.GB-T5170.8-2008_電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法___鹽霧試驗設備
6.GJB150.11A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法鹽霧試驗
*注：可依客戶產(chǎn)品尺寸定制
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