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電子產(chǎn)品的EMC電磁兼容性能設(shè)計體現(xiàn)在哪些方面

電氣火災(zāi)監(jiān)控探測器內(nèi)部一般具有模擬信號電路和高精度的A/D轉(zhuǎn)換電路，且各類產(chǎn)品內(nèi)部都具有獨立的時鐘和微處理器芯片。因此在產(chǎn)品設(shè)計之初就需要考慮以下幾個方面以提高產(chǎn)品在電磁干擾環(huán)境下的可靠性：

1、在產(chǎn)品的電源、I/O口和接地端之間連接快速、低容量的二極管，或直接并聯(lián)更為高效的瞬態(tài)抑制二極管，同時再增加高頻旁路電容器，放置在易損元件的電源和地之間以提高靜電防護性能；

2、使用壓敏電阻、TVS管、氣體放電管等專門的浪涌抑制器件，或者多種器件配合使用以實現(xiàn)浪涌抑制；

3、對PCB的各功能部分合理分區(qū)、合理布線。模擬信號、數(shù)字信號和繼電器、大電流開關(guān)等部件之間要分開，元器件之間的引線要盡量短，信號線路不形成環(huán)路，減少電磁干擾信號的耦合；
4、在滿足設(shè)計要求的前提下，盡量降低時鐘頻率、減少高頻噪聲，且時鐘線盡可能短，對干擾信號特別敏感的電路考慮加裝金屬屏蔽罩等防護措施；

5、設(shè)計合理的內(nèi)部處理器程序，在采樣計算指令中加入軟件濾波算法來降低誤報警觸發(fā)幾率；

6、對于產(chǎn)品的顯示器件，如LCD顯示器和指示燈，程序中加入定時刷新指令，防止產(chǎn)品在受到干擾時發(fā)生顯示錯誤；

7、在主程序中加入看門狗指令，定時復(fù)位單片機防止發(fā)生內(nèi)部故障或系統(tǒng)假死，減少試驗期間發(fā)生系統(tǒng)組件故障的可能。

4.壓降測試

顧名思義，電壓降測試用于測試突然的電壓驟降或其他電源中斷對設(shè)備的影響。這將復(fù)制掉電的影響以及設(shè)備可能會遇到的交流電源網(wǎng)絡(luò)中的正常波動。在電壓降測試中，抽頭自耦變壓器和 抗擾度測試系統(tǒng) 將運行一系列模擬，這些模擬具有變化的長度和嚴(yán)重程度的跌落和跌落。電壓降測試還用于測試設(shè)備在完全斷電后成功重啟的能力。

5.EFT測試

EFT（電快速瞬變）測試可復(fù)制由電網(wǎng)上的感性負(fù)載切換引起的干擾。突發(fā)發(fā)生器用于模擬電氣開關(guān)，電動機和繼電器，熒光燈鎮(zhèn)流器以及其他常見瞬變原因?qū)Ρ粶y設(shè)備的影響。不正確的接地或共模轉(zhuǎn)換可能導(dǎo)致故障，內(nèi)部損壞，輔助設(shè)備問題，通信問題等等。EFT測試通常在交流或直流電源端口以及信號/控制端口上執(zhí)行，信號/控制端口可以連接到長度超過3m的電纜。

6.ESD測試

靜電放電（ESD）是指電擊由于積聚的靜電而產(chǎn)生的靜電放電（地毯電擊）。這些短暫的能量爆發(fā)會導(dǎo)致許多問題，例如IC端口損壞，通信故障，LCD屏幕損壞等等。ESD測試是通過EMC測試設(shè)備執(zhí)行的，該設(shè)備會產(chǎn)生短暫的能量爆發(fā)，通常在4kV和8kV時。測試設(shè)備配備有可模擬電荷的直接接觸和空中傳輸?shù)募记?。常見的設(shè)備為靜電放電發(fā)生器。

7.輻射抗擾度測試

輻射抗擾度測試可評估設(shè)備在暴露于不同電場源的情況下正常運行的能力。電磁噪聲可能來自多種來源，從手機，微波爐到Wi-Fi路由器。

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