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鹽霧試驗箱對于集成電路的危害

　　本章澳騰斯小編簡單來給您介紹一下鹽霧在自然界中的構成以及對電子產品的影響，并比較了電子產品、設備、部件和材料的鹽霧試驗參數。根據鹽霧試驗箱的應用范圍，通過對部件、材料、元器件和整機的逐步檢查，對提高并評價電子產品長期耐鹽霧性能的研究方法進行了簡單的介紹。

　　在大氣中，由含鹽微小液滴所構成的彌散系統(tǒng)指的就是鹽霧，根據相關統(tǒng)計，在各種飛機的現場故障中，大約50%是由環(huán)境造成的。其中，溫度占40%，振動占27%，濕熱占19%，沙塵占5%，鹽霧占4%?？梢钥闯?，鹽霧在近20個環(huán)境因素中排名第五，是一個不容忽視的破壞性因素。

　　近年來，科學家開始使用鹽霧試驗箱，研究了鹽霧對集成電路、雷達天線罩等產品的影響。結果表明，由于電化學反應，集成電路會產生腐蝕性物質，破壞電路的表面和性能。同時，它與材料和密封性有一定的關系。當包裝氣密性好時，只有導線受到塑料包裝和玻璃包裝腐蝕的影響，而陶瓷包裝受到腐蝕的影響很大。鹽霧顯著增加了天線罩對雷達波的反射。形成的閃的花瓣會引起虛擬警報，減少蓋壁的透射，形成雷達盲區(qū)。

　　目前，鹽霧試驗箱可以開展的鹽霧測試方法多種多樣，根據不同的應用范圍。一般可分為設備級、元件級和材料級，研究數據表明，每個標準鹽霧的參數范圍是一致的，但由于應用范圍不同，測試方法也不同。有連續(xù)噴霧、鹽霧與干燥交替、鹽霧與濕熱交替等。至此，我們了解到鹽霧環(huán)境對于集成電路所造成的危害，鹽霧試驗箱現已成為各大行業(yè)常用的鹽霧檢測儀器。歡迎前來咨詢。

滿足標準：

GB-T2423.17-1993     鹽霧試驗箱要求       

GB/T 12967.3-91    CASS加速醋酸鹽霧試驗

ASTM.B117-97         鹽霧試驗       

GB/T 10125-2012    人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗

 依CNS.JIS.ASTM規(guī)格，可設定式恒溫控制：

（A） 鹽水噴霧試驗：NSS，ACSS

（1） 試驗室：35℃±1℃

（2） 壓力空氣桶：47℃±1℃

空氣供應系統(tǒng)：空氣壓力為1kg/cm2

噴霧量調式1-2mI（mI/80cm2/h）（16小時平均量）。

噴霧方式：連續(xù)式及間歇式可任意設定

鹽霧試驗箱主要特點：

1.溫度控制儀表采用微電腦PID控制儀表，控制精度高且穩(wěn)定性好，從而有效保證了溫濕度的波動范圍及試驗運行;

2.溫度控制采用P.I.D＋S.S.R，系統(tǒng)同頻道協(xié)調控制,可提高控制組件與界面使用之穩(wěn)定性及壽命,觸摸按鍵式設定、數值多種畫面直接顯示;

3.自動加水采用凈水過濾器，確保管路不堵塞，使用壽命更長。(此項業(yè)行內首創(chuàng)）

4.試驗室水位過高自動溢水裝置，無需人工排放，然而保證了加溫時間不會過長。

5.加熱系統(tǒng)選用鈦合金加熱器，耐腐蝕永不生銹，設有維修口。

6.壓力桶采用SUS304不銹鋼制做，壓力桶又名“飽和空氣桶”是鹽霧試驗箱較為核心的一部分,其作用是壓縮進來的空氣加濕加熱及油污過濾,故又名“飽和桶” 

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